210 مم × 210 مم M12 رقاقة شمسية أحادية السليكون بقطر 295 مم أكبر بنسبة 80.5٪ من رقاقة M2.
1 خصائص المواد
ملكية | تخصيص | طريقة الفحص |
طريقة النمو | تشيكوسلوفاكيا | |
التبلور | أحادي البلورية | تقنيات الحفر التفضيلية（ASTM F47-88） |
نوع التوصيل | نوع P. | نابسون EC-80TPN P/N |
Dopant | البورون والجاليوم | - |
تركيز الأكسجين [Oi] | ≦8E+17 في / سم3 | فتير (ASTM F121-83) |
تركيز الكربون [Cs] | ≦5E+16 في / سم3 | فتير (ASTM F123-91) |
كثافة الحفرة (كثافة الخلع) | ≦500 سم-3 | تقنيات الحفر التفضيلية（ASTM F47-88） |
اتجاه السطح | & lt ؛ 100> ؛ ± 3 ° | طريقة حيود الأشعة السينية (ASTM F26-1987) |
اتجاه الجوانب المربعة الزائفة | & lt؛ 010> ؛،<؛ 001>؛ ± 3 ° | طريقة حيود الأشعة السينية (ASTM F26-1987) |
2 الخصائص الكهربائية
ملكية | تخصيص | طريقة الفحص |
المقاومة النوعية | 0.5-1.5 سم | نظام فحص بسكويت الويفر |
MCLT (عمر ناقل الأقلية) | ≧50 μs | سينتون BCT-400 (مع مستوى الحقن: 1E15 سم-3) |
3الهندسة
ملكية | تخصيص | طريقة الفحص |
الهندسة | مربع كامل | |
طول ضلع الويفر | 182 ± 0.25 ملم | نظام فحص بسكويت الويفر |
قطر الرقاقة | φ247 ± 0.25 ملم | نظام فحص بسكويت الويفر |
الزاوية المحصورة بين الضلعين المتجاورتين | 90° ± 0.2° | نظام فحص بسكويت الويفر |
سماكة | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | نظام فحص بسكويت الويفر |
TTV (تباين السماكة الكلي) | ≤27 µm | نظام فحص بسكويت الويفر |
4 خصائص السطح
ملكية | تخصيص | طريقة الفحص |
طريقة القطع | DW | -- |
جودة السطح | مثل القطع والتنظيف ، لا يوجد تلوث مرئي ، (الزيت أو الشحوم ، بصمات الأصابع ، بقع الصابون ، بقع الطين ، الايبوكسي / بقع الغراء غير مسموح بها) | نظام فحص بسكويت الويفر |
رأى علامات / خطوات | ≤ 15µm | نظام فحص بسكويت الويفر |
قوس | ≤ 40 µm | نظام فحص بسكويت الويفر |
اعوجاج | ≤ 40 µm | نظام فحص بسكويت الويفر |
رقاقة | العمق ≤0.3 مم والطول 0.5 مم كحد أقصى 2 / قطعة ؛ لا V- رقاقة | نظام فحص بالعيون المجردة أو الويفر |
الشقوق الصغيرة / الثقوب | غير مسموح | نظام فحص بسكويت الويفر |
الوسم : نوع p 182mm رقاقة شمسية أحادية البلورية ، الصين ، الموردين ، الشركات المصنعة ، المصنع ، صنع في الصين
